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簡要描述:Nikon OST 3200 光學(xué)顯微鏡是一款多功能的光學(xué)顯微鏡和晶圓檢測設(shè)備,廣泛應(yīng)用于研究、臨床和教學(xué)領(lǐng)域。Nikon OST-3200 提供了圖像質(zhì)量和先進(jìn)的相位對比度光學(xué)技術(shù)。它配備了可調(diào)節(jié)的無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)、內(nèi)置光纖照明、電動控制以及多目鏡,這些功能使其在科研和教學(xué)中非常實(shí)用。此外,該顯微鏡還具備自動板閱讀器和手動聚焦系統(tǒng),進(jìn)一步提升了其使用便捷性。
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Nikon OST 3200 光學(xué)顯微鏡
是一款多功能的光學(xué)顯微鏡和晶圓檢測設(shè)備,廣泛應(yīng)用于研究、臨床和教學(xué)領(lǐng)域。根據(jù)不同的證據(jù)來源,它具有多種功能和特點(diǎn)。
作為一款光學(xué)顯微鏡,Nikon OST-3200 提供了的圖像質(zhì)量和先進(jìn)的相位對比度光學(xué)技術(shù)。它配備了可調(diào)節(jié)的無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)、內(nèi)置光纖照明、電動控制以及多目鏡,這些功能使其在科研和教學(xué)中非常實(shí)用。此外,該顯微鏡還具備自動板閱讀器和手動聚焦系統(tǒng),進(jìn)一步提升了其使用便捷性。
另一方面,Nikon OST-3200 也是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測設(shè)備,主要用于檢測各種基板上的缺陷。它能夠精確、準(zhǔn)確地檢測晶圓和薄膜基板上的微小缺陷(如0.1 μm大?。T撛O(shè)備設(shè)計有直觀的用戶界面和內(nèi)置的成像功能,可以無損檢查晶片和掩模,并且可以與其他 Nikon 技術(shù)整合。
此外,Nikon OST-3200 還支持雙FOUP系統(tǒng),滿足300mm工廠自動化的需求,并且可以與上部傳送(OHT)和其他自動傳送系統(tǒng)兼容。這使得它不僅適用于一般的顯微觀察分析,還非常適合半導(dǎo)體制造過程中的高精度檢測需求。
Nikon OST-3200 是一款集高分辨率光學(xué)、高級照明和多種附件于一體的先進(jìn)多模式顯微鏡和晶圓檢測設(shè)備,適用于廣泛的科研、臨床和教學(xué)應(yīng)用.
高級模塊化光學(xué)顯微鏡
提供圖像捕捉能力
人體工學(xué)無窮矯正光學(xué)系統(tǒng)
內(nèi)置光纖照明
電動控制和多目顯鏡
研究應(yīng)用
臨床應(yīng)用
教學(xué)應(yīng)用
高分辨率光學(xué)系統(tǒng)
先進(jìn)的光照技術(shù)
寬范圍配件支持先進(jìn)成像和操作能力
直觀的用戶界面
內(nèi)置成像功能,無損檢查口罩和晶片
可與其他NIKON技術(shù)整合
面向高級研究和檢查應(yīng)用設(shè)計
自動板檢測系統(tǒng),精確檢測到0.1 μm缺陷
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